دسته : -سمینار
فرمت فایل : pdf
حجم فایل : 8710 KB
تعداد صفحات : 164
بازدیدها : 209
برچسبها : ذرات نانو تجهیزات شناسایی SEM TEM
مبلغ : 10000 تومان
خرید این فایلسمینار و پروژه پایانی برای دریافت درجه کارشناسی ارشد مهندسی مواد شناسایی و انتخاب مواد مهندسی
روش های شناسایی و ارزیابی ذرات نانو و معرفی تجهیزات مورد نیاز برای شناسایی
DEPARTMENT OF METALLURGY ENGINEERING "M.Sc." THESIS
INVESTIGATION ON NANO PARTICULATES AND PRESENTATION THE NECESSARY EQUIPMENTS
پروژه دانلودی حاضر در 7 فصل کلی با عناوین :
چکیده
مقدمه
فصل اول میکروسکوپی با نور و الکترون
فصل دوم الکترون ها و واکنش آنها با نمونه
فصل سوم میکروسکوپ الکترونی روبشی (Scanning Electron Microscope, SEM)
فصل چهارم میکروسکوپ الکترون عبوری (Transmission Eiectrin Microscopy,TEM)
فصل پنجم آنالیز شیمیایی در میکروسکوپ الکترونی
فصل ششم سایر تکنیکهای تکمیلی (other complementary techniques)
فصل هفتم دستگاه (XRD (X-RAY DIFFRACTION))
در نهایت نیز منابع و مواخذ ذکر شده است
چکیده :
امروزه بررسی ویژگی و خواص مواد بدون مطالعه ریز ساختار ها امکان پذیر نیست بررسی آرایش اتمی به همراه آنالیز موضعی، اطلاعات ارزشمندی برای درک خواص و رفتار مواد و طراحی مواد نو و پیش بینی خواص مورد نیاز فراهم نموده است. توسعه دنیای نانو مرهون پیشرفت و تکامل ابزار شناسایی ریز ساختار و خواص موضعی مواد می باشد. محققان با استفاده از تکنیک های جدید توانسته اند به بزرگنمایی هایی بالاتر از یک میلیون برابر و در مقیاس سه بعدی تا حد تفکیک اتمی دست یابند. از این رودر اینسمینار سعی شده است با معرفی روش های شناسایی و ارزیابی ذرات نانو یک جمع بندی از تجهیزات مورد نیاز برای شناسایی ساختارهای نانو و هم چنین مواد نان ساختار ارائه گردد تکنیگ های مطرح شده در این سمینار در طیف گسترده ای از حوزه های مختلف پژوهشی از جمله متالوژی سرامیک و کامپوزیت شیمی سطح فیزیک پلیمر پزشکی و … کاربرد دارد.
همانطور که خواهید دید نکات بسیار بیشتری از آنچه که تا به حال اشاره شد در مورد tem مطرح است خصوصا که راه های فراوانی برای کنترل فرآیند تشکیل تصویر به گونه ای که جزئیات خاصی از نمونه آشکار شود وجود دارد. علاوه بر این، در سالهای اخیر امکانات فراوانی برای آنالیز موضعی نمونه نیز فراهم آمده است. جزئیات روشهای آنالیز مانند طیف نگاری پرتو x . پرتو الکترونی (electron spectrometry) امروزه بخشی از تجهیزات متداول میکروسکوپ هستند نه تنها اطلاعات شیمیایی بلکه اطلاعات ساختاری را نیز می توان به آسانی از طریق پراش الکترونی در sem یا tem به دست آورد...
خرید و دانلود آنی فایل